纳米颗粒电迁移率粒径谱仪的粒径检测下限可以达到1纳米，可计量粒径小于2纳米的颗粒，这对理解颗粒物成核的动力学过程和基本机制至关重要。在研究气溶胶成核过程中，测量低于2纳米的气溶胶粒径分布。对于理解研究新颗粒生成机制，以及颗粒形成长大机制，长大速率等至关重要。此外，研究颗粒物在大气中的成核过程 (该过程可以影响大气中云的形成，进而影响太阳的辐射强迫 )、燃烧相关产生的颗粒物（机动车排放）、以及材料科学 （纳米颗粒合成）、都需要测量并了解颗粒物的成核过程。

产品特点

■ 从1.1纳米开始测量颗粒物的粒径分布

■ 融合了Airmodus 专利 PSM 技术和 GRIMM SMPS+C

■ Airmodus专利的纳米颗粒增大技术（PSM）技术可使 SMPS 测量到最小的纳米颗粒和团簇

■ 2级CPC凝聚长大技术（二甘醇和正丁醇）

■为测量1纳米颗粒优化了DMA气路系统

■ DMA 可以选择扫描模式，步进模式或单一粒径筛分三种模式

■ 可以兼容多种气溶胶中和器

■ 紧凑，集成，易于操作

■ 所有配置都可由软件设定控制

产品应用

■ 基础气溶胶研究

■ 纳米技术过程监测

■ 大气颗粒物成核研究

■ 纳米颗粒长大、团聚、传输研究

■ 任何纳米颗粒相关研究